您的位置：HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述：HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱通常能夠在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)模擬出類似于長(zhǎng)時(shí)間自然老化過(guò)程的效果。它采用高溫高濕的環(huán)境條件，通常在100°C至150°C的溫度范圍內(nèi)，并且相對(duì)濕度達(dá)到85%至95%。這種條件下，HAST試驗(yàn)箱可以加速電子元器件和材料的老化過(guò)程，以更快地評(píng)估其可靠性和壽命。配備了溫濕度控制系統(tǒng)，能夠精確地調(diào)節(jié)和保持所需的溫度和濕度條件。
產(chǎn)品型號(hào)：DR-HAST-450- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-10-14
- 訪 問(wèn) 量：968
產(chǎn)品用途：用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗(yàn)。
執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)
JESD22-A118溫濕度無(wú)偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱具有以下特點(diǎn)：
高加速性能：HAST試驗(yàn)箱能夠加速產(chǎn)品老化過(guò)程，從而在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)評(píng)估其可靠性和壽命。
溫濕度控制：試驗(yàn)箱配備了溫濕度控制系統(tǒng)，能夠精確地調(diào)節(jié)和保持所需的溫度和濕度條件。
壓力控制：HAST試驗(yàn)箱還可以施加一定的氣壓，以模擬產(chǎn)品在高海拔或高壓環(huán)境下的應(yīng)力情況。
多功能性：除了模擬高溫高濕條件外，HAST試驗(yàn)箱還可以進(jìn)行其他類型的加速老化測(cè)試，如熱循環(huán)、溫度沖擊等。
數(shù)據(jù)記錄與分析：試驗(yàn)箱通常配備了數(shù)據(jù)記錄和分析系統(tǒng)，能夠監(jiān)測(cè)、記錄和分析測(cè)試過(guò)程中的溫濕度等參數(shù)變化，為后續(xù)分析提供依據(jù)。
HAST溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)箱在電子產(chǎn)品制造、汽車零部件、航空航天等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用，能夠幫助評(píng)估產(chǎn)品在惡劣條件下的可靠性和壽命，指導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和改進(jìn)工藝。
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