hast高壓加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱具有一系列顯著的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)，使其成為評(píng)估材料和產(chǎn)品在濕度環(huán)境下可靠性的重要工具：

1. 加速老化效果**：通過(guò)在高壓條件下進(jìn)行溫濕度測(cè)試，HAST試驗(yàn)箱可以大大加速老化過(guò)程，從而縮短測(cè)試周期，節(jié)省時(shí)間成本。

2. 溫度和壓力控制**：能夠在超過(guò)100°C的條件下控制溫濕度，這是傳統(tǒng)高溫高濕測(cè)試所無(wú)法達(dá)到的。

3. 快速暴露缺陷**：在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)階段，HAST試驗(yàn)箱可以快速暴露產(chǎn)品的潛在缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。

4. 廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域**：適用于IC封裝、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料以及其他電子零件的加速壽命和信賴性試驗(yàn)。

5. 防止過(guò)熱蒸汽沖擊**：內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì)，防止試驗(yàn)過(guò)程中的結(jié)露滴水現(xiàn)象，避免產(chǎn)品受到過(guò)熱蒸汽的直接沖擊。

6. 高精度測(cè)量**：采用干濕球傳感器直接測(cè)量，提供精確的溫濕度控制。

7. 多功能控制**：支持UHAST（無(wú)偏壓）和BHAST（偏壓）試驗(yàn)，滿足不同的測(cè)試需求。

8. 用戶友好的操作界面**：配備大尺寸彩色觸摸屏，提供直觀的操作和數(shù)據(jù)分析。

9. 數(shù)據(jù)記錄與追溯**：具備USB數(shù)據(jù)下載功能，方便數(shù)據(jù)記錄和后續(xù)分析。

10. 符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)**：滿足多項(xiàng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，如GB/T2423.40, IEC60068-2-66等，確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

11. 定制化服務(wù)**：根據(jù)不同的測(cè)試需求，提供更多型號(hào)的定制化服務(wù)。

12. 安全可靠**：設(shè)計(jì)有多重安全保護(hù)措施，確保試驗(yàn)過(guò)程的安全性。

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱的這些優(yōu)勢(shì)使其成為電子、汽車(chē)、航空航天等行業(yè)在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制中常用的工具。

hast高壓加速老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法說(shuō)明：

1.JESD22-A101-C:穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，和元件加偏壓的時(shí)間

常用測(cè)試條件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h

2.JESD22-A110 ：HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

常用測(cè)試條件：

130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h

3.JESD22-A118：溫濕度無(wú)偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，蒸汽壓力和時(shí)間

常用測(cè)試條件：

130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h（264h）和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h（96h）樣品數(shù)25ea/lot , 3lots

4. JESD22-A102-E：PCT高壓蒸煮試驗(yàn)

5. JESD22-A102-D：PCT無(wú)偏壓高壓加速抗?jié)裥栽囼?yàn)

試驗(yàn)條件包括：溫度，相對(duì)濕度，蒸汽壓力和持續(xù)時(shí)間

常用測(cè)試條件：121℃±2/100%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h